hi3521a-datasheet.tar

说明：  系统中采用了电压反馈闭环，单片机通过内部软件产生一路SPWM控制信号，然后经过逻辑门变换电路变换成逆变全桥所需的四路驱动信号，再经专用驱动芯片TLP250隔离放大后，分别加到逆变全桥四个IGBT的栅极，进行驱动控制。(The voltage feedback closed loop is used in the system, and the single chip microcomputer generates all the SPWM control signal through the internal software, then transforms the four-way drive signal required by the logic gate transformation circuit into the inverter full bridge, and then adds to the gate of four IGBT of the inverter full bridge after the special drive chip TLP250 isolation and amplification, and carries on the drive control.)

说明：  此範例可測試STM32F103Z_GPIOG硬體腳位測試，由GPIOG~GPIOG15皆可左移驅動。(This paradigm may test STM32F103Z_GPIOG hardware feet a bit test, administered by GPIOG ~ GPIOG15 can be left-shift drivers.)

ARM cortex m3看门狗定时器，未启用看门狗复位，完整的工程文件(ARM cortex m3 watchdog timer, watchdog reset is not enabled, the complete project file)

freescale KE系列中文使用手册，适合新手和英语不善长者使用。(Freescale KEXX Chinese manual, suitable for beginners and poor English elders use.)

说明：  1.采用优质土壤传感器做土壤湿度的检测，表面采用镀镍处理，有加宽的感应面积，可以提高导电性能，防止接触土壤容易生锈的问题，延长使用寿命； 2.产品可以宽范围控制土壤的湿度，通过电位器调节控制相应阀值，湿度低于设定值时，DO输出高电平，高于设定值时，DO输出低电平； 3.比较器采用LM393芯片，工作稳定 4.工作电压3.3V-5V 5.设有固定螺栓孔，方便安装 6.PCB尺寸：3.2cm * 1.4m 接线说明（4线制） 1 VCC 外接3.3V-5V 2 GND 外接GND 3 DO 小板数字量输出接口（0和1） 4 AO小板电压模拟量输出 模块使用说明： 1.传感器适用于土壤的湿度检测； 2.模块中蓝色的电位器是用于土壤湿度的阀值调节，顺时针调节，控制的湿度会越大，逆时针越小； 3.数字量输出D0可以与单片机直接相连，通过单片机来检测高低电平，由此来检测土壤湿度； 4小板模拟量输出AO可以和AD模块相连，通过AD转换，可以获得土壤湿度更精确的数值； 使用STM32驱动时，一般使用ADC读取其模拟量输出，以gokit stm32f103c8t6为例；(Detection of Soil Moisture)

主控STM32F103RCT6，控制2.8寸触摸屏，实现实数加、减、乘、除、指数等运算。(Main control STM32F103RCT6, control 2.8 Inch Touch Screen ,Realize real number addition, subtraction, multiplication, division, exponential and other operations.)

STM32F446 ECG PC APP Test 心电方面的资料，Corte1-m4 核心，使用浮点加速(STM32F446 ECG PC APP Test ECG relevant information, Corte1-m4 core, floating-point acceleration)

说明：  stm32h743 spi+dma 开发示例(stm32h743 adc+dma example)

嵌入式ARM7的示范程序。本例程用于嵌入式处理器中的的闪存测试。(Embedded ARM7 demonstration program. The routines for the embedded processor in the memory test.)

说明：  STM32 ADC实验 用内部芯片采样，可以省掉外部AD芯片，好办法(STM32 ADC experiment with internal chip sampling, can save external ad chip, a good way)