一个U盘的电子原理图，请有需要的初学者参考一下。

jfs-2.4-1.1.7.tar.gz jfs 2.4－1.1.7 源码， 赶紧下载啊--Source code for jfs 2.4－1.1.7.

wdm格式的驱动例子代码，包括io端口的读写。是前面三个例子的升级。-wdm drivers format code examples, including io- port reader. Yes previous three examples upgrade.

1， SPI_877A,是针对PROBE877A所写。 SPI_877,是针对PROBE877所写。 SPI_77，是针对PROBE77所写。 初次使用使用PICMATE2004或者其简化版精灵版，如果为以上提到的3款型号，并有TPDEM1， 请根据PROBE型号在相应文件夹下打开项目，编译，并运行，具体连线请看各文件夹说明。 2， 其它文件夹项目均针对PROBE877A所建立，如果要使用PROBE877，请修改头文件，并选择PROBE877支持的芯片。 3， 严格禁止将PROBE877与877A混用，否则将造成仿真芯片工作异常。-1, SPI_877A, is written by PROBE877A. SPI_877, is written by PROBE877. SPI_77, is written by PROBE77. First-time use or its PICMATE2004 Wizard version of Starter Edition, if for the above-mentioned models 3 and TPDEM1, please PROBE models in the corresponding folder to open the project, compile, and run, the specific connection see the folder Note. 2, other projects are folders created for PROBE877A, if you want to use PROBE877, please amend the header file, and select PROBE877 support chips. 3, is strictly prohibited PROBE877 and 877A will be a mix, or else the work will result in simulation chips abnormal.

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资源描述STM32F103C8T76的SPI口读九轴传感器MPU9250数据，用JLink RTT打印传感器读出的数据。采用STM32CubeMX的图形界面软件配置STM32参数，初始化STM32芯片；采用SPI读取MPU9250的陀螺仪、加速度计、磁场计的数据；采用SWD口调试，利用JLink RTT打印读取到的陀螺仪、加速度计、磁场计的数据；修改了官网上的RTT程序的Bug（打印语句进入死循环）。

它的完整的exFAT文件系统的代码，它是嵌入式系统中很容易实现，但也兼容FAT16和FAT32的良好架构的实现。

嵌入式系统启动代码-embedded system boot code

本资料对如何最大限度的使用2812片内ram及不得已使用2812外扩RAM及flash技术进行了极为详尽的剖析，是本人及其它嵌入式前辈的精心之作，隆重推荐！-This information on how to maximize the use of 2812 and the last resort the use of 2812 within the ram outside the extended RAM and flash technology, a very detailed analysis of both myself and the other for the embedded predecessors carefully! Grand Recommended

u-boot.bin是使用JTAG转换板来烧写到AT2440EVB开发板上Nand flash(K9F1208)中-u-boot.bin is to use the JTAG programmer to the conversion plate to AT2440EVB development board Nand flash (K9F1208) in

MCI接口下读写SD card的完整测试程序。希望多一点ATmel sam系列的应用程序-MCI interfaces to read and write to the SD card integrity test procedure. Hope more ATmel sam series of applications