新的窗口监控并行BIST
于 2022-01-22 发布
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代码说明:
应用背景输入向量并行内置自测试(BIST)监测在电路正常运行时执行测试方案不需要设置一个需要设置的电路线来进行测试。这些计划是基于硬件开销和并发测试潜伏期(CTL),即为测试所需的时间完成,而电路工作正常;关键技术内置自测试(BIST)技术构成的一类方案这将提供高性能测试的性能故障覆盖,而同时,他们放松的依赖昂贵的外部测试设备;
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