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针对最低有效位 LSB方法保密性较差的问题, 本文提出了一种复合Henon混沌序列和LSB的图像加密解密算法(For the least significant bit LSB method less confidentiality issues, this paper proposes a complex Henon chaotic sequence and the LSB of the image encryption and decryption algorithm)

IDL关于图像感兴趣图像区域进行编辑并将结果输出，多ROI区域DN值信息比较(IDL about the region of the image interested in editing and exporting the results, and comparing the DN value information of the multiple ROI regions)

它不仅具有Gabor变换的六个方向选择性,而且有更小的冗余度(It is not only selective Gabor Transform six directions, but also smaller redundancy )

matlab函数进行图像轮廓处理，处理效果还是可以的。(matlab function detect the picture and scale the picture)

基于纹理特征的图像检索源码，用双树复小波（DT－CWT）三级分解提取图像的纹理特征(Texture-based image retrieval source code, using dual tree complex wavelet (DT-CWT) to extract texture features three levels of decomposition)

边缘检测 Edge Detection Edge Detection(Edge Detection)

这是完整的一套人脸表情识别,从样本训练到目标的识别.采用PCA来提取特征(This is the complete set of Facial Expression Recognition from the sample to the target identification training. Using PCA to extract the characteristics of)

图像压缩相关代码，基于小波域的矢量量化算法实现图像编码功能(Image compression code image coding, wavelet-based vector quantization algorithm)

Relief-F 算法是由 Kononenko 在 Relief 算法基础上扩展得到的，可以用来解决多分类与回归问题。 Relief-F 特征选择算法利用特征与类别间的相关程度判别特征的敏感程度，敏感的特征能使同类样本靠近，非同类样本远离。基本思想是： 先随机从总样本集 D中获取一个样本 R， 然后在 与 R 同类样本集中和与R 异类 样 本 集 中 各 获 取 k 个近 邻 样 本， 在 特 征 集 F中如果某个特征上异类样本的距离大于同类样本，则这个特征是有利于分类的，增加其权重，重复 n 次 取所有结果的均值作为每个特征的最终权重值.

随着生产和工艺的进步，人们对产品的质量要求越来越高，基于机器视觉的在线 检测系统成为一种重要的质量控制手段。本文对应用于宽幅面、高精度的基于分布式 机器视觉的产品表面缺陷在线检测理论与算法进行了研究，并在此基础上以印刷品和 浮法玻璃的缺陷检测为例，完成了模式产品和非模式产品的缺陷在线检测系统。(With the progress of production and technology, people are increasingly demanding high quality products, based on machine vision for online 检测 system into one kind of Zhong Yao quality Kongzhishouduan. This article applies to wide format, high-precision machine vision products based on distributed-line surface defect detection theory and algorithms are studied, and on this basis, and float glass in print defect detection, for example, completed a model of products and non-model product line defect detection system.)